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易使電路失真,電容器并不完美

發(fā)布時間:2014-02-13 來源:Bonnie Baker 責(zé)任編輯:cicy

【導(dǎo)讀】通常情況下,我們總喜歡把電容器想得太完美,這或許是錯的,提到失真時更是如此。電容器通常位于信號路徑中,可能會給其自身的所有電路帶來失真。

圖1 是一些信號路徑中包含電容器的典型電路。

信號路徑中包含電容器的典型電路
圖 1. 六階帶通濾波器的第一階 (a)        以及為 ADC 驅(qū)動 R/C 對的放大器 (b)

圖1a 是一個 Sallen-Key 帶通濾波器級。該電路中有兩個電容器都暴露在出現(xiàn)在濾波器信號路徑中的 AC 電壓中。圖1b 是一款在 SAR-ADC 輸入驅(qū)動器路徑中使用 R/C 網(wǎng)絡(luò)的放大器。電容器CF在到達(dá)模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 之前首先遇到輸入信號。

失真的產(chǎn)生是因為電容器電壓及頻率的依從特性。下列等式可描述電容隨電壓曲線的變化情況: C = C0 ( 1 + bVCAP),其中C0 是標(biāo)稱電容,VCAP 是整個電容的電壓,b 是電容器的電壓系數(shù)。它通常包含引起非線性響應(yīng)的更高階項。

圖2 是電壓與電容變化的典型曲線圖。

電壓與電容變化的典型曲線圖
圖 2. 電容器電壓系數(shù)

變化電容器的輸入輸出電荷可穿過相鄰阻抗,形成信號失真。由于來自電容器的充電電流具有電壓依從性,因此它會產(chǎn)生非線性錯誤。對于任何信號來說,這種錯誤都包含諧波。

電容器電壓系數(shù)特性在半導(dǎo)體工藝中會更加顯著。由于圖 1b 中的 ADC 輸入具有內(nèi)部輸入 R/C,因此失真產(chǎn)生現(xiàn)象出現(xiàn)在轉(zhuǎn)換器輸入級內(nèi)部。幸運的是,半導(dǎo)體廠商已經(jīng)針對該錯誤調(diào)整了數(shù)字輸出信號。此外,較小內(nèi)部 ADC 電容器 (CSH) 的較大電壓系數(shù)可通過較大外部電容器的電壓系數(shù)拉低。

此外,電容器的電介質(zhì)屬性可能會引發(fā)更多與頻率有關(guān)的失真。您可在圖 3 中看到這些影響。


圖 3. 電容器 THD+N 與頻率的關(guān)系

圖 3 是幾個電容器的特性,以及其總諧波失真 + 噪聲 (SINAD) 與頻率性能的對比。該圖中的綠線使用 C0G 電容器測得。金色線是系統(tǒng)測量結(jié)果。圖中的其它曲線分別取自具有不同電介質(zhì) — Y5V(紅)、Z5U(藍(lán))以及 X7R(黑)的陶瓷電容器。注意,這些類型的電容器會隨頻率變化而產(chǎn)生顯著的非線性與信號失真。

圖中未顯示 NPO 類陶瓷電容器。NPO 類電容器與 C0G 性能基本一致。信號失真的形式有多種,而電路信號路徑中的電容器很可能是失真原因最后考慮的事情。為 C1 及 C2(圖 1a)以及 CF(圖 1b)選擇適當(dāng)?shù)碾娙萜黝愋头浅jP(guān)鍵。您會發(fā)現(xiàn)更高質(zhì)量的外部電容器不會降低濾波器或 ADC 的性能。

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