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為什么測(cè)量精度對(duì) EV 性能至關(guān)重要
使用傳感器測(cè)量電路中不同的功率相關(guān)參數(shù)時(shí),會(huì)遇到不同的挑戰(zhàn)。主要挑戰(zhàn)是保持傳感器和電源電路之間的電氣隔離,以防止電源電路波動(dòng)對(duì)測(cè)量的影響。高效隔離還有助于保持高頻開關(guān)電路中的測(cè)量精度,該電路極易受到這些高頻開關(guān)通過(guò)接地環(huán)路產(chǎn)生的噪聲的影響。
2023-03-25
測(cè)量精度 EV 性能
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拆分和仲裁雙向串行總線
雙向總線(例如,I 2 C、SMBus 和 LIN)在當(dāng)今的電子產(chǎn)品中已變得無(wú)處不在,部分原因在于它們的簡(jiǎn)單性。僅使用兩條線——數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線——多個(gè)設(shè)備就可以相互通信。根據(jù)I 2 C總線規(guī)范,多128個(gè)設(shè)備可以共享相同的數(shù)據(jù)和時(shí)鐘線;這是通過(guò)在每個(gè)設(shè)備上使用外部上拉電阻和開漏驅(qū)動(dòng)器來(lái)實(shí)現(xiàn)的。如果沒有設(shè)...
2023-03-25
拆分 仲裁 雙向串行總線
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生成與模擬電壓的平方根成反比的脈沖寬度
盡管單穩(wěn)態(tài)僅需進(jìn)行此修改即可發(fā)揮作用,但圖 1中IC 1、 IC 2和 IC 3的邏輯電路 增加了另一個(gè)功能。添加的邏輯可確保發(fā)生器忽略進(jìn)入單穩(wěn)態(tài)繁忙狀態(tài)的下一個(gè)觸發(fā)脈沖。
2023-03-24
模擬電壓 平方根 脈沖寬度
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串聯(lián)連接的 MOSFET 可提高電壓和功率處理能力
當(dāng)電源驅(qū)動(dòng)大容性負(fù)載時(shí),浪涌電流如果不加以限制,對(duì)于高壓電源來(lái)說(shuō)可以達(dá)到幾十或幾百安培。一般來(lái)說(shuō),電源的額定值可能會(huì)瞬態(tài)超過(guò)許多倍,但當(dāng)瞬態(tài)持續(xù)幾個(gè)交流線路周期時(shí),這通常是可以接受的。這對(duì)于高達(dá)幾百微法的負(fù)載電容是典型的,但對(duì)于數(shù)千微法的負(fù)載電容,浪涌電流限制器是必須的。
2023-03-24
串聯(lián)連接 MOSFET 電壓
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串聯(lián)連接的 MOSFET 可提高電壓和功率處理能力
當(dāng)電源驅(qū)動(dòng)大容性負(fù)載時(shí),浪涌電流如果不加以限制,對(duì)于高壓電源來(lái)說(shuō)可以達(dá)到幾十或幾百安培。一般來(lái)說(shuō),電源的額定值可能會(huì)瞬態(tài)超過(guò)許多倍,但當(dāng)瞬態(tài)持續(xù)幾個(gè)交流線路周期時(shí),這通常是可以接受的。這對(duì)于高達(dá)幾百微法的負(fù)載電容是典型的,但對(duì)于數(shù)千微法的負(fù)載電容,浪涌電流限制器是必須的。
2023-03-24
串聯(lián)連接 MOSFET 電壓
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電源管理面臨五大趨勢(shì),產(chǎn)業(yè)界都是如何應(yīng)對(duì)?
高效的電源管理包括增加電子設(shè)備的功率傳輸能力,同時(shí)最大限度地減少損耗并保持信號(hào)完整性。
2023-03-23
電源管理 功率傳輸
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電路檢測(cè)快速下降的信號(hào)并抑制噪聲
檢測(cè)超過(guò)某個(gè)閾值的快速下降信號(hào)對(duì)于超聲波或定位設(shè)備以及地震學(xué)系統(tǒng)很重要。您可以將軌到軌運(yùn)算放大器與施密特觸發(fā)邏輯門組合起來(lái)以執(zhí)行此功能(圖 1)。這個(gè)例子在超聲波機(jī)器上運(yùn)行良好。它控制一個(gè)采樣保持放大器,該放大器設(shè)置 AGC(自動(dòng)增益控制)系統(tǒng)的增益。
2023-03-23
電路檢測(cè) 信號(hào) 抑制噪聲
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DSP 技巧:頻率解調(diào)算法
微分器是抽頭數(shù)為奇數(shù)的抽頭延遲線 FIR 微分濾波器。當(dāng)微分器是一個(gè)系數(shù)為 1,0,–1 的 FIR 濾波器時(shí),參考文獻(xiàn) [54] 了可接受的結(jié)果。
2023-03-23
DSP 頻率解調(diào)算法 微分器
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通過(guò)避免超速和欠速測(cè)試來(lái)限度地減少良率影響
在用于汽車 SoC 的納米技術(shù)中,硅上的大多數(shù)缺陷都是由于時(shí)序問題造成的。因此,汽車設(shè)計(jì)中的全速覆蓋要求非常嚴(yán)格。為了滿足這些要求,工程師們付出了很多努力來(lái)獲得更高的實(shí)速覆蓋率。主要挑戰(zhàn)是以盡可能低的成本以高產(chǎn)量獲得所需質(zhì)量的硅。在本文中,我們討論了與實(shí)時(shí)測(cè)試中的過(guò)度測(cè)試和測(cè)試不足...
2023-03-23
超速測(cè)試 欠速測(cè)試 汽車設(shè)計(jì)
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