日前，泰克高級設計工程師Kan Tan與泰克首席工程師John Pickerd共同撰寫《防止S參數(shù)級聯(lián)時失真的插值程序》(Interpolation Procedure For Cascading S-Parameters To Prevent Aliasing)一文被“2013 IEEE 國際電子測量與儀器學術會議（ICEMI2013）”錄用。同時這兩位技術專家將在8月16-19日于哈爾濱舉辦“ICEMI2013”上發(fā)表演講，并通過泰克的串行數(shù)據(jù)鏈路分析（SDLA）工具及設備為現(xiàn)場觀眾演示這種“通過對S參數(shù)再采樣來防止S參數(shù)級聯(lián)過程中產(chǎn)生的失真”的具體方法。

S參數(shù)是為了對射頻元器件的線性特性進行分析和建模而開發(fā)的一種方法。在把多個獨立的器件級聯(lián)起來做成一個比較復雜的系統(tǒng)時，S參數(shù)在分析、建模和設計的過程中起著重要的作用。在高速串行數(shù)據(jù)鏈路系統(tǒng)中，一個復雜的系統(tǒng)可能由多個子系統(tǒng)組成，每個子系統(tǒng)可以用一個S參數(shù)集表示，必須把這些S參數(shù)集組合起來，才能獲得整個系統(tǒng)的模型。

在將這些S參數(shù)集組合時，S參數(shù)數(shù)據(jù)必須覆蓋所需帶寬，并且必須擁有足夠精細的頻率分辨率，以防止失真。也就是說，S參數(shù)數(shù)據(jù)的頻率分辨率必須足夠精細，以提供足夠長的時間間隔，能夠覆蓋脈沖響應時間周期外加反射時間周期。雖然每一個模塊的所有S參數(shù)數(shù)據(jù)都可能有合適的頻率分辨率，足以覆蓋時間間隔，但在把這些模塊以級聯(lián)方式結合在一起時，原有的頻率分辨率可能會變得不夠，不能覆蓋足夠的時間間隔，這將導致S參數(shù)集出現(xiàn)相位失真。

泰克專家的《防止S參數(shù)級聯(lián)時失真的插值程序》一文詳細介紹了防止S參數(shù)級聯(lián)時出現(xiàn)相位失真的具體方法，通過對每個模塊的各個S參數(shù)重新采樣，可提供更小的頻率間隔，組合后的S參數(shù)將獲得更高的時間間隔來滿足整個脈沖響應加反射所需的時間周期，來防止相位失真。在執(zhí)行再采樣時，可選擇在頻域中執(zhí)行插補或通過插補幅度及相位成分等方式來完成。本文還列舉了一個級聯(lián)反嵌和嵌入實例來演示這種防止失真的方法。

這種先進的方法，是基于配備有 SDLA 軟件的泰克 DSA/DPO/MSO 70000 系列實時示波器的 SDLA 可視化儀（Visualizer）進行模擬和驗證的。泰克SDLA可視化儀應用在測量電路反嵌、模擬電路嵌入和接收機均衡等領域，可為計算機、通信和內(nèi)存總線提供完整的仿真和測量環(huán)境。

 

IEEE國際電子測量與儀器學術會議(ICEMI)是兩年一度的學術盛會，從1992年至今已成功舉辦過十屆，為電子測量與儀器領域的發(fā)展現(xiàn)狀和前景的研討及尖端技術的交流搭建了一個有效的平臺。每一屆ICEMI會議都會向全球從事測量與儀器儀表研究的專業(yè)人士征稿，邀請他們分享其最新的研究成果。欲報名參加ICEMI2013，請點擊www.icemi.cn進行注冊。

“本次《防止S參數(shù)級聯(lián)時失真的插值程序》一文能夠被ICEMI錄用，充分體現(xiàn)了ICEMI對泰克技術專家一直致力于推動測試測量行業(yè)創(chuàng)新的肯定。泰克將繼續(xù)秉承多年來的創(chuàng)新傳統(tǒng)，提供更完善的技術和應用，同時加強與各方的合作，積極推進行業(yè)的長期發(fā)展。”泰克亞太區(qū)市場總監(jiān)王中元 (Felix Wong)表示。

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