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新型EMC寬帶TEM喇叭天線(xiàn)設(shè)計(jì)
本文提出了一種結(jié)構(gòu)新穎的寬帶TEM喇叭天線(xiàn),滿(mǎn)足電磁兼容(EMC)測(cè)量設(shè)備對(duì)寬頻帶天線(xiàn)的需求。天線(xiàn)輻射結(jié)構(gòu)采用了上下對(duì)稱(chēng)的雙指數(shù)漸變復(fù)合結(jié)構(gòu)的金屬板,使得天線(xiàn)的諧振模式大大增加,從而拓展帶寬天線(xiàn),然后通過(guò)巴倫結(jié)構(gòu)與同軸線(xiàn)匹配饋電,降低輸入端不平衡饋電造成的強(qiáng)反射。具有寬帶和良好的輻...
2016-08-02
EMC 寬帶TEM喇叭天線(xiàn)
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EMC測(cè)試中為什么往往垂直極化的測(cè)試結(jié)果大于水平極化?
經(jīng)常會(huì)有工程師、客戶(hù)、以及同事聊到測(cè)試輻射時(shí),為什么大部分都是接收天線(xiàn)在垂直方向比較差,水平方向卻很好呢?很多客戶(hù)在測(cè)試時(shí)特別是開(kāi)關(guān)電源客戶(hù)看一下水平方向的數(shù)據(jù)確認(rèn)沒(méi)有問(wèn)題后,直接無(wú)視水平測(cè)試數(shù)據(jù),只測(cè)試雙錐對(duì)數(shù)周期天線(xiàn)垂直極化方向的數(shù)據(jù)就好。
2016-08-02
EMC測(cè)試 垂直極化 水平極化
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大牛教你如何解決PCB設(shè)計(jì)中EMC問(wèn)題
隨著高速設(shè)計(jì)時(shí)代的來(lái)臨,PCB設(shè)計(jì)已經(jīng)從以前簡(jiǎn)單的擺器件、拉線(xiàn)發(fā)展到一門(mén)以電工學(xué)為基礎(chǔ),綜合電子、熱、機(jī)械、化工等多學(xué)科的專(zhuān)業(yè)了。PCB設(shè)計(jì)的好壞直接決定了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的質(zhì)量和周期,成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)鏈中關(guān)鍵的一個(gè)環(huán)節(jié)。在社會(huì)化分工越來(lái)越細(xì)的今天,PCB設(shè)計(jì)已逐漸成為一門(mén)獨(dú)立的學(xué)科,在歐美,專(zhuān)業(yè)...
2016-08-01
PCB設(shè)計(jì) EMC PCB
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防止外界的EMI,對(duì)單片機(jī)系統(tǒng)提出可行的EMS技術(shù)方法
單片機(jī)系統(tǒng)的EMC問(wèn)題已經(jīng)成為電子工程師關(guān)注的重要課題。本文對(duì)單片機(jī)系統(tǒng)的EMI進(jìn)行分析并提出一些可行的EMS技術(shù)方法。
2016-07-12
EMI EMS 單片機(jī)
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LinkSwitch導(dǎo)致電磁兼容性問(wèn)題,工程師何以解憂(yōu)?
電源是各種電子設(shè)備必不可少的重要組成部分,其性能的優(yōu)劣直接關(guān)系到整個(gè)電子系統(tǒng)的安全性和可靠性。單片開(kāi)關(guān)電源集成電路由于其具有高集成度、高性?xún)r(jià)比、最簡(jiǎn)外圍電路、最佳性能指標(biāo)等優(yōu)點(diǎn),顯示出了強(qiáng)大的生命力。隨之帶來(lái)的電磁兼容性問(wèn)題也不容忽視,本文以真實(shí)案例為例講解工程師如何化解LinkS...
2016-07-11
LinkSwitch 單片電源 開(kāi)關(guān)電源 電磁兼容
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如何降低MOSFET損耗并提升EMI性能
MOSFET作為主要的開(kāi)關(guān)功率器件之一,被大量應(yīng)用于模塊電源。本文主要闡述了MOSFET在模塊電源中的應(yīng)用,分析了MOSFET損耗特點(diǎn),提出了優(yōu)化方法;并且闡述了優(yōu)化方法與EMI之間的關(guān)系。
2016-06-27
MOSFET 損耗分析 EMI
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數(shù)字電路PCB設(shè)計(jì)中的EMI控制技術(shù)
EMI 的產(chǎn)生是由于電磁干擾源通過(guò)耦合路徑將能量傳遞給敏感系統(tǒng)造成的。它包括經(jīng)由導(dǎo)線(xiàn)或公共地線(xiàn)的傳導(dǎo)、通過(guò)空間輻射或通過(guò)近場(chǎng)耦合三種基本形式。EMI 的危害表現(xiàn)為降低傳輸信號(hào)質(zhì)量,對(duì)電路或設(shè)備造成干擾甚至破壞,使設(shè)備不能滿(mǎn)足電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的技術(shù)指標(biāo)要求。
2016-06-23
PCB EMI
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如何將EMC問(wèn)題“扼殺”在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中的“搖籃里”?
傳統(tǒng)的電子產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)思路都是產(chǎn)品成型后再進(jìn)行一系列的測(cè)試,通過(guò)測(cè)試判定產(chǎn)品是否符合各項(xiàng)指標(biāo)的要求,但是這種設(shè)計(jì)思路存在的弊端就是只能等產(chǎn)品成型后再進(jìn)行驗(yàn)證,項(xiàng)目周期會(huì)非常長(zhǎng),同時(shí)一旦產(chǎn)品驗(yàn)證失敗,需要進(jìn)行一系列的整改、測(cè)試,這樣對(duì)于整個(gè)項(xiàng)目的周期、成本都是非常大的浪費(fèi)。本...
2016-06-22
產(chǎn)品開(kāi)發(fā) EMC 設(shè)計(jì) 整改
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針對(duì)電子線(xiàn)路的電磁兼容性分析
隨著電子技術(shù)的高速發(fā)展,世界進(jìn)入了信息時(shí)代。電子、電氣設(shè)備或系統(tǒng)獲得了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。大功率的發(fā)射機(jī)對(duì)不希望接收其信息的高靈敏度接收機(jī)構(gòu)成了災(zāi)難性的干擾,在工業(yè)發(fā)達(dá)的大城市中,電磁環(huán)境越來(lái)越惡劣,往往使電子、電氣設(shè)備或系統(tǒng)不能正常工作,引起性能降低,甚至受到損壞。
2016-06-17
電子線(xiàn)路 電磁兼容性 CAD
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