你的位置:首頁 > 電路保護(hù) > 正文

用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件

發(fā)布時間:2018-04-20 來源:Paul O''Sullivan 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】設(shè)計具有魯棒性的電子電路較為困難,通常會導(dǎo)致具有大量分立保護(hù)器件的設(shè)計的相關(guān)成本增加、時間延長、空間擴(kuò)大。本文將討論故障保護(hù)開關(guān)架構(gòu),及其與傳統(tǒng)分立保護(hù)解決方案相比的性能優(yōu)勢和其他優(yōu)點(diǎn)。
 
下文討論了一種新型開關(guān)架構(gòu),以及提供業(yè)界領(lǐng)先的故障保護(hù)性能以及精密信號鏈所需性能的專有高電壓工藝。ADI的故障保護(hù)開關(guān)和多路復(fù)用器新型產(chǎn)品系列(ADG52xxF和ADG54xxF)就是采用這種技術(shù)。
 
高性能信號鏈的模擬輸入保護(hù)往往令系統(tǒng)設(shè)計人員很頭痛。通常,需要在模擬性能(例如漏電阻和導(dǎo)通電阻)和保護(hù)水平(可由分立器件提供)之間進(jìn)行權(quán)衡。
 
用具有過電壓保護(hù)功能的模擬開關(guān)和多路復(fù)用器代替分立保護(hù)器件能夠在模擬性能、魯棒性和解決方案尺寸方面提供顯著的優(yōu)勢。過電壓保護(hù)器件位于敏感下游電路和受到外部應(yīng)力的輸入端之間。一個例子是過程控制信號鏈中的傳感器輸入端。
 
本文詳細(xì)說明了由過電壓事件引起的問題,討論了傳統(tǒng)分立保護(hù)解決方案及其相關(guān)缺點(diǎn),還介紹了過電壓保護(hù)模擬開關(guān)解決方案的特性和系統(tǒng)優(yōu)勢,最后介紹了ADI業(yè)界領(lǐng)先的故障保護(hù)模擬開關(guān)產(chǎn)品系列。
 
過電壓問題—回顧基礎(chǔ)
 
如果施加在開關(guān)上的輸入信號超過電源電壓(VDD或VSS)一個以上二極管壓降,則IC內(nèi)的ESD保護(hù)二極管將變成正向偏置,而且電流將從輸入信號端流至電源,如圖1所示。這種電流會損壞元件,如果不加以限制,還可能觸發(fā)閂鎖事件。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖1.過壓電流路徑。
 
如果開關(guān)未上電,則可能出現(xiàn)以下幾種情形:
 
1.如果電源浮動,輸入信號可能通過ESD二極管向上對VDD供電軌供電。這種情況下,VDD電平會處于輸入信號電壓減去一個正向二極管壓降的范圍內(nèi)。
 
2.I如果電源接地,PMOS器件將在負(fù)VGS下接通,開關(guān)將把削減的信號傳至輸出端,這可能會損壞同樣未上電的下 游器件(參見圖2)。注:如果有二極管連接至電源,它們將發(fā)生正向偏置,把信號削減為+0.7 V。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖2.電源接地時的過電壓信號。
 
分立保護(hù)解決方案
 
設(shè)計人員通常采用分立保護(hù)器件解決輸入保護(hù)問題。
 
通常會利用大的串聯(lián)電阻限制故障期間的電流,而連接至供 電軌的肖特基或齊納二極管將箝位任意過電壓信號。圖3所 示為多路復(fù)用信號鏈中這種保護(hù)方案的一個示例。
 
但是,使用此類分立保護(hù)器件存在許多缺點(diǎn)。
 
1.串聯(lián)電阻會延長多路復(fù)用器的建立時間并縮短整體建立 時間。
 
2.保護(hù)二極管會產(chǎn)生額外的漏電流和不斷變化的電容,從 而影響測量結(jié)果的精度和線性度。
 
3.在電源浮動情況時時沒有任何保護(hù),因為連接至電源的 ESD二極管不會提供任何箝位保護(hù)。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖3.分立保護(hù)解決方案。
 
傳統(tǒng)開關(guān)架構(gòu)
 
圖4為一種傳統(tǒng)開關(guān)架構(gòu)的概覽。在開關(guān)器件(在圖4的右側(cè)) 中,ESD二極管連接至開關(guān)元件輸入和輸出端的供電軌。圖 中還顯示了外部分立保護(hù)器件—用于限制電流的串聯(lián)電阻 和用于實(shí)現(xiàn)過電壓箝位的肖特基二極管(連接至電源)。在 苛刻環(huán)境下,通常還需要利用雙向TVS提供額外的保護(hù)。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖4.采用外部分立保護(hù)器件的傳統(tǒng)開關(guān)架構(gòu)。
 
故障保護(hù)開關(guān)架構(gòu)
 
故障保護(hù)開關(guān)架構(gòu)如圖5所示。輸入端的ESD二極管用雙向 ESD單元代替,輸入電壓范圍不再受連接至供電軌的ESD二 極管限制。因此,輸入端的電壓可能達(dá)到工藝限值(ADI提 供的新型故障保護(hù)開關(guān)的限值為±55 V)。
 
大多數(shù)情況下,ESD二極管仍然存在于輸出端,因為輸出端 通常不需要過電壓保護(hù)。
 
輸入端的ESD單元仍然能夠提供出色的ESD保護(hù)。使用此類 ESD單元的ADG5412F過電壓故障保護(hù)四通道SPST開關(guān)的 HBM ESD額定值可達(dá)到5.5 kV。
 
對于IEC ESD (IEC 61000-4-2)、EFT或浪涌保護(hù)等更嚴(yán)格的情 況,可能仍然需要一個外部TVS或一個小型限流電阻。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖5.故障保護(hù)開關(guān)架構(gòu)。
 
開關(guān)的一個輸入端發(fā)生過電壓狀況時,受影響的通道將關(guān) 閉,輸入將變?yōu)楦咦钁B(tài)。其他通道上的漏電流仍然很小,因 而其余通道能夠繼續(xù)正常工作,而且對性能的影響極小。幾 乎不用在系統(tǒng)速度/性能和過電壓保護(hù)之間進(jìn)行妥協(xié)。
 
因此,故障保護(hù)開關(guān)能夠大幅簡化信號鏈解決方案。很多情 況下都需要使用限流電阻和肖特基二極管,而開關(guān)過電壓保 護(hù)消除了這種需要。整體系統(tǒng)性能也不再受通常會引起信號 鏈漏電和失真的外部分立器件限制。
 
ADI 故障保護(hù)開關(guān)的特性
 
ADI的故障保護(hù)開關(guān)新型產(chǎn)品系列采用專有高電壓工藝打造 而成,能夠在上電和未上電狀態(tài)下提供高達(dá)±55 V的過電壓 保護(hù)。這些器件能夠為精密信號鏈?zhǔn)褂玫墓收媳Wo(hù)開關(guān)提供 業(yè)界領(lǐng)先的性能。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖6.溝槽隔離工藝。
 
防閂鎖性
 
專有高電壓工藝也采用了溝槽隔離技術(shù)。各開關(guān)的NDMOS與 PDMOS晶體管之間有一個絕緣氧化物層。因此,它與結(jié)隔離式 開關(guān)不同,晶體管之間不存在寄生結(jié),從而抑制了所有情況下 的閂鎖現(xiàn)象。例如,ADG5412F通過了1秒脈寬±500 mA的 JESD78D閂鎖測試,這是規(guī)范中最嚴(yán)格的測試。
 
模擬性能
 
新型ADI故障保護(hù)開關(guān)不僅能夠?qū)崿F(xiàn)業(yè)界領(lǐng)先的魯棒性(過 電壓保護(hù)、高ESD額定值、上電時無數(shù)字輸入控制時處于已 知狀態(tài)),而且還具有業(yè)界領(lǐng)先的模擬性能。模擬開關(guān)的性 能總是要在低導(dǎo)通電阻和低電容/電荷注入之間進(jìn)行權(quán)衡。模 擬開關(guān)的選擇通常取決于負(fù)載是高阻抗還是低阻抗。
 
低阻抗系統(tǒng)
 
低阻抗系統(tǒng)通常采用低導(dǎo)通電阻器件,其中模擬開關(guān)的導(dǎo)通 電阻需要保持在最小值。在電等低阻抗系統(tǒng)中—例如源或增 益級—導(dǎo)通電阻和源阻抗與負(fù)載處于并聯(lián)狀態(tài)會引起增益 誤差。雖然許多情況下能夠?qū)υ鲆嬲`差進(jìn)行校準(zhǔn),但是信號 范圍內(nèi)或通道之間的導(dǎo)通電阻 (RON) 變化所引起的失真就 無法通過校準(zhǔn)進(jìn)行消除。因此,低阻電路更受制于因RON平 坦度和通道間的RON變化所導(dǎo)致的失真誤差。
 
圖7顯示了一個新型故障保護(hù)開關(guān)在信號輸入范圍內(nèi)的導(dǎo)通 電阻特性。除了能夠?qū)崿F(xiàn)極低的導(dǎo)通電阻外,RON平坦度和 通道之間的一致性也非常出色。這些器件采用具有專利技術(shù) 的開關(guān)驅(qū)動器設(shè)計,能夠確保在信號輸入電壓范圍內(nèi)VGS電 壓保持恒定從而導(dǎo)致平坦的RON性能。權(quán)衡就是信號輸入范 圍略有縮小,開關(guān)導(dǎo)通性能實(shí)現(xiàn)優(yōu)化,這可從RON圖的形狀 看出。在對RON變化或THD敏感的應(yīng)用中,這種RON性能可使 系統(tǒng)具有明顯的優(yōu)勢。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖7.故障保護(hù)開關(guān)導(dǎo)通電阻。
 
ADG5404F是一款新型的具有防閂鎖、過壓故障保護(hù)功能的 多路復(fù)用器。與標(biāo)準(zhǔn)器件相比,具有防閂鎖功能和過電壓保 護(hù)功能的器件通常具有更高的導(dǎo)通電阻和更差的導(dǎo)通電阻 平坦度。但是,由于ADG5404F設(shè)計中采用了恒定VGS方案, RON平坦度實(shí)際上優(yōu)于ADG1404(業(yè)界領(lǐng)先的低導(dǎo)通電阻) 和ADG5404(防閂鎖,但沒有過電壓保護(hù)功能)。在很多應(yīng) 用中,例如RTD溫度測量,RON平坦度實(shí)際上比導(dǎo)通電阻的 絕對值更重要,因此具有故障保護(hù)功能的模擬開關(guān)在此類系 統(tǒng)中具有提高其產(chǎn)品性能的潛力。
 
低阻抗系統(tǒng)的典型故障模式是在發(fā)生故障時漏極輸出變成 開路。
 
高阻抗系統(tǒng)
 
在高阻抗系統(tǒng)通常采用低漏電流、低電容和低電荷注入開 關(guān)。由于多路復(fù)用器輸出上的放大器負(fù)載,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)通 常具有高阻抗。
 
1.漏電流是高阻抗電路的主要誤差來源。任意漏電流都可能 產(chǎn)生顯著的測量誤差。
 
2.低電容和低電荷注入也對快速建立至關(guān)重要。這可使數(shù)據(jù) 采集系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)最大的數(shù)據(jù)吞吐量。
 
新型ADI故障保護(hù)開關(guān)的漏電性能非常出色。正常工作時, 漏電流處于低nA范圍內(nèi),這對在許多應(yīng)用中進(jìn)行精確測量至 關(guān)重要。
 
最重要的是,即使其中一條輸入通道處于故障狀態(tài),防漏性 能依然十分出色。這意味著,在修復(fù)故障前,可繼續(xù)對其他 通道進(jìn)行測量,因而系統(tǒng)停機(jī)時間得以縮短。ADG5248F 8:1 多路復(fù)用器的過電壓漏電流如圖8所示。
 
高阻抗系統(tǒng)的典型故障模式是在發(fā)生故障時使漏極輸出拉 至供電軌。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖8.ADG5248F 過電壓漏電流的溫度特性。
 
故障診斷
 
大部分新型ADI故障保護(hù)開關(guān)還采用了數(shù)字故障引腳。FF引 腳是通用故障標(biāo)志,表示其中一條輸入通道處于故障狀態(tài)。 特殊故障引腳(或SF引腳)可用于診斷哪一路特定輸入處于 故障狀態(tài)。
 
這些引腳對在系統(tǒng)中進(jìn)行故障診斷非常有用。FF 引腳首先向 用戶發(fā)出故障警告。隨后,用戶可輪詢數(shù)字輸入,然后SF 引腳將報出哪些特定開關(guān)或通道處于故障狀態(tài)。
 
系統(tǒng)優(yōu)勢
 
故障保護(hù)開關(guān)新型產(chǎn)品系列的系統(tǒng)優(yōu)勢如圖9所示。無論是 在確保精密信號鏈的出色模擬性能方面,還是在系統(tǒng)魯棒性 方面,該產(chǎn)品系列為系統(tǒng)設(shè)計人員帶來的優(yōu)勢都非常巨大。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖9.ADI 故障保護(hù)開關(guān)—特性和系統(tǒng)優(yōu)勢。
 
與分立保護(hù)器件相比,其優(yōu)勢非常明顯,這些優(yōu)勢已在前文 詳細(xì)說明。專有高電壓工藝和新型開關(guān)架構(gòu)還賦予了ADI故 障保護(hù)開關(guān)新產(chǎn)品系列多項優(yōu)于同類解決方案的優(yōu)勢。
 
1.業(yè)界領(lǐng)先的RON平坦度,非常適合精密測量
2.業(yè)界領(lǐng)先的故障漏電流,能夠在未受故障影響的其他通道 上繼續(xù)工作(比同類解決方案性能好10倍)
3.器件配備副故障電源,可實(shí)現(xiàn)精密故障閾值設(shè)定,同時還 能維持出色的模擬開關(guān)性能
4.適合系統(tǒng)故障診斷的智能故障標(biāo)志
 
應(yīng)用范例
 
圖10所示的第一個應(yīng)用范例是過程控制信號鏈,其中,微控制 器可監(jiān)控多個傳感器,例如RTD或熱電偶溫度傳感器、壓力傳 感器和濕度傳感器。在過程控制應(yīng)用中,傳感器可能連接在工 廠中一條非常長的電纜上,整條電纜都有可能出現(xiàn)故障。
 
此范例采用的多路復(fù)用器是ADG5249F,該器件已針對低電 容和低漏電流進(jìn)行優(yōu)化。對于此類小型信號傳感器測量應(yīng) 用,低漏電流非常重要。
 
模擬開關(guān)采用±15 V電源,同時副故障電源設(shè)置為5 V和 GND,能夠保護(hù)下游PGA和ADC。
 
主傳感器信號通過多路復(fù)用器傳至PGA和ADC,而故障診斷 信息則直接發(fā)送至微控制器,用于在發(fā)生故障時提供中斷功 能。因此,用戶可收到故障狀況的警告,并確定哪些傳感器 發(fā)生故障。然后便可派出技術(shù)人員對故障進(jìn)行調(diào)試,必要時 可更換發(fā)生故障的傳感器或電纜。
 
得益于業(yè)界領(lǐng)先的低故障漏電流規(guī)格,當(dāng)其中一個傳感器故 障、正在等待更換時,其他傳感器可以繼續(xù)執(zhí)行監(jiān)控功能。 如果沒有這種低故障漏電流,一條通道發(fā)生故障可能導(dǎo)致所 有其他通道無法使用,故障被修復(fù)后才可重新使用。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖10.過程控制應(yīng)用范例。
 
圖11中的第二個應(yīng)用范例是數(shù)據(jù)采集信號鏈的一部分,其 中,ADG5462F通道保護(hù)器可增添額外的價值。在此范例中, PGA采用±15 V供電,而下游ADC則具有0 V至5 V的輸入信 號范圍。
 
通道保護(hù)器位于PGA 和ADC 之間。采用±15 V 作為主電源, 以獲得出色的導(dǎo)通電阻性能,而其副供電軌則采用0 V 和5 V 電壓。正常工作時,ADG5462F 允許信號通過,但會將PGA 的所有過電壓輸出箝位至0 V 和5 V 之間,以保護(hù)ADC。因 此,與前面的應(yīng)用范例一樣,目標(biāo)信號輸入范圍會在平坦的 RON 工作區(qū)域中。
 
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
圖11.數(shù)據(jù)采集應(yīng)用范例。
 
總結(jié)
 
用具有過電壓保護(hù)功能的模擬開關(guān)和多路復(fù)用器代替?zhèn)鹘y(tǒng) 分立保護(hù)器件可在精密信號鏈中提供多項系統(tǒng)優(yōu)勢。除了節(jié) 省電路板空間外,代替分立器件的性能優(yōu)勢也非常明顯。
 
ADI公司提供多種具有過電壓保護(hù)功能的模擬開關(guān)和多路復(fù) 用器。表1和表2列出了最新的故障保護(hù)器件產(chǎn)品系列。這些 產(chǎn)品系列采用專有的高電壓和防閂鎖工藝打造而成,能夠為 精密信號鏈提供業(yè)界領(lǐng)先的性能和特性。
 
產(chǎn)品系列匯總
 
表1.低導(dǎo)通電阻型故障保護(hù)開關(guān) 產(chǎn)品 配置
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
 
表2.低電容/低電荷注入型故障保護(hù)開關(guān)
用過壓故障保護(hù)模擬開關(guān)代替分立保護(hù)器件
 
 
推薦閱讀:
 
ADC 中的集成式容性 PGA :重新定義性能
三年內(nèi)會商用的5G射頻與測試的八個關(guān)注點(diǎn)
技術(shù)解析:蘋果5G毫米波八木天線專利
深度剖析“車輛跟蹤系統(tǒng)”的五個關(guān)鍵部分
為什么要在 MOSFET 柵極前面放一個 100 Ω 電阻?
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉