【導(dǎo)讀】最近遇見(jiàn)一個(gè)棘手的問(wèn)題：ST的開(kāi)關(guān)電源芯片炸裂問(wèn)題損壞板上的D2正常，如果是因?yàn)殡娏鬟^(guò)大導(dǎo)致?lián)p壞，為什么D2沒(méi)有被擊穿？這與我們做的破壞性試驗(yàn)不相符??？還有其他什么原因?qū)е滦酒眩?
最近我們公司的洗衣機(jī)控制板電源部分在客戶(hù)運(yùn)行中出現(xiàn)開(kāi)關(guān)電源芯片炸裂的現(xiàn)象，先將原理圖截圖如下：
客戶(hù)反饋回來(lái)的板子參數(shù)測(cè)量如下：
1、D3塑封殼可見(jiàn)內(nèi)部金屬部分；萬(wàn)用表二極管檔測(cè)量正反方向均為無(wú)窮大；
2、D2 外觀完好，二極管檔測(cè)試正常，正向：0.479，反向：無(wú)窮大；
3、D1 外觀完好，二極管檔測(cè)試如下：正向：0.476，反向：無(wú)窮大；對(duì)比正常板（未拆元件在板上測(cè)量）正向：0.414，反向：0.742；
4、L1電感設(shè)計(jì)參數(shù)：1.5mH ,實(shí)際測(cè)量418mH,顯然已經(jīng)開(kāi)路。
我們做了破壞性試驗(yàn)想找到芯片炸裂原因，發(fā)現(xiàn)短接二極管D2，芯片炸裂，與客戶(hù)退回來(lái)的損壞板炸裂一樣，我有疑問(wèn)，損壞板上的D2正常，如果是因?yàn)殡娏鬟^(guò)大導(dǎo)致?lián)p壞，為什么D2沒(méi)有被擊穿？這與我們做的破壞性試驗(yàn)不相符??？還有其他什么原因?qū)е滦酒眩?/div>
此芯片有過(guò)溫保護(hù)，短接Z1后出現(xiàn)過(guò)溫保護(hù)；
請(qǐng)各位幫忙分析一下，此電路元件選型需要改進(jìn)嗎？
