是德科技分享:電源完整性測(cè)量的主要問題及方案
發(fā)布時(shí)間:2015-05-01 責(zé)任編輯:sherry
【導(dǎo)讀】工程師在電源完整性測(cè)量過程中遇到的主要問題是什么?是德科技(中國(guó))有限公司大中華區(qū)市場(chǎng)經(jīng)理杜吉偉在IIC 2015春季論壇上分享了他們?cè)诎菰L工程師過程中了解到的情況。
最主要的問題包括:
●“我的系統(tǒng)中的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)噪聲首要來源就是電源噪聲”;
●“我需要測(cè)試1.2V電源上的 60mV 紋波,示波器和探頭的固有噪聲干擾了我的測(cè)量”;
●“除了測(cè)量紋波,觀察時(shí)域瞬變,我還需要很好的 FFT 功能以示波器噪聲耦合源”;
●“我不能接受50 Ω SMA電纜對(duì)我被測(cè)對(duì)象電壓帶來的改變, 隔直電容不滿足我的需求,因?yàn)橛盟涂床坏诫娫吹钠?rdquo;,等等。
杜吉偉認(rèn)為,電源完整性測(cè)量要注意以下四個(gè)測(cè)量方案自身的影響:
1.本底噪聲:大小影響測(cè)量結(jié)果
2.支持流行的次級(jí)電源:是否支持所有的電源直流電壓
3.負(fù)載效應(yīng):是否會(huì)改變被測(cè)直流電壓的值
4.帶寬:是否可捕獲我關(guān)心的所有諧波
“在測(cè)量過程中,使用隔直電容帶來的問題是,看不到1.5V DDR3電源直流成分,及其可能的跌落和漂移。使用隔直電容帶來的問題是丟失低頻成分。用 SMA 電纜直接連接到示波器50 Ω 輸入帶來的問題是,50Ω 直流阻抗直接將被測(cè)信號(hào)電壓拉低 ~60mV ,它改變了被測(cè)對(duì)象的行為。測(cè)量帶寬則要足夠才能發(fā)現(xiàn)高頻成分。”杜吉偉舉例分析說。
針對(duì)這些問題,是德科技推出了目前業(yè)內(nèi)第一個(gè)而且是唯一一個(gè)電源完整性探頭:N7020A 電源完整性探頭。
它的基本參數(shù)如下:
●探頭帶寬 (-3dB):2GHz
●衰減比:1:1
●偏置范圍:± 24V
●直流輸入阻抗:50kΩ +/-2%
●探頭噪:對(duì)示波器的本底噪聲僅增加10%
同時(shí)是德科技也有實(shí)現(xiàn)更好的電源完整性仿真方案,即使用EEsof ADS 和 EM 方案。它的優(yōu)勢(shì)是通過電磁仿真分析地和電源平面噪聲,可處理很大的PCB布局獲取電磁模型,靜態(tài)和動(dòng)態(tài)的IR壓降分析,將電壓和電流的分布可視化,以及檢測(cè)電源平面的諧振和去偶電容的優(yōu)化等。
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