【導讀】日前，是德科技公司宣布，推出為 PNA 和 PNA-X 系列微波矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）添加高性能頻譜分析儀功能的新功能選件。此舉為業(yè)界首創(chuàng)，新器件可以將測試速度加快 10 到 500 倍。VNA 綜合此功能后，即可在表征衛(wèi)星設備、國防電子器件和商用無線器件中的 S 參數(shù)、壓縮和失真之余，還執(zhí)行高速雜散測量，從而簡化系統(tǒng)連接，節(jié)省測量時間。
工程師在執(zhí)行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內(nèi)執(zhí)行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現(xiàn)有測量方法提升 500 倍。測量結果可以與當前最快、最復雜的獨立頻譜或信號分析儀相提并論。
VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業(yè)界領先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉(zhuǎn)換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量；諧波測量；互調(diào)產(chǎn)物測量；以及其他高階混頻產(chǎn)物測量。
夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入（校正接收機響應誤差，消除電纜和夾具影響）中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現(xiàn)更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。
是德科技元器件測試事業(yè)部 PNA 市場經(jīng)理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺儀器中執(zhí)行高性能頻譜和網(wǎng)絡測量，可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創(chuàng)新還可以取代開關矩陣和獨立的頻譜分析儀，進而滿足日益重要的、減小元器件表征測試系統(tǒng)體積的需求。”
每一臺 Keysight VNA 都充分體現(xiàn)了是德科技在線性和非線性器件表征方面的專業(yè)水平。當您在研發(fā)實驗室中和生產(chǎn)線上執(zhí)行設計和測量時，PNA 系列的卓越性能能夠為您帶來前所未有的幫助。
