Knowles公司Syfer品牌的電容應(yīng)用溫度區(qū)間為-55℃到+150℃，如下表所示：

一些汽車電子或工業(yè)應(yīng)用常常會提出嚴(yán)格的溫度需求，特別是高達(dá)200℃的應(yīng)用。普通產(chǎn)品可能不適合額定125℃以上的應(yīng)用，但Knowles/Syfer經(jīng)過在其制造工廠進行的廣泛測試，可向用戶推薦適用于更高溫下應(yīng)用的電容。然而需要注意的是，基于C0G，X5R，X7R，或X8R電介質(zhì)的電容，盡管可在200℃的高溫下應(yīng)用，但其性能可能會有一定的衰減。

 

 

多層陶瓷電容的可靠性與工作電壓以及工作溫度直接相關(guān)。隨著溫度上升，加速因子（Acceleration Factor 一項體現(xiàn)可靠性的反向指標(biāo)）的升高將非常顯著 （如下圖所示）：

加速因子與工作溫度對照

單單熱應(yīng)力即可導(dǎo)致電氣失效。當(dāng)介質(zhì)產(chǎn)生熱量的速度高于其所能發(fā)散的速度時就會發(fā)生熱擊穿。這會提高介質(zhì)的導(dǎo)電性，產(chǎn)生更多熱量，最終導(dǎo)致電容性能的不穩(wěn)定，通常表現(xiàn)為溫度的急劇上升。電容通過局部放電時所產(chǎn)生熱量，可能足以熔化電介質(zhì)材料。

 

用戶在決定某個電容是否適用于高溫環(huán)境時，需要考慮熱應(yīng)力和溫度上升對容值、耗散因子和絕緣電阻等基礎(chǔ)電性能所產(chǎn)生的影響。

 

Knowles/Syfer針對采用各種電介質(zhì)材料制造的電容都進行了廣泛的測試，包括高達(dá)200℃高溫下電容的可靠性測試，具體數(shù)據(jù)可以參考下面的典型測試曲線。

 

由于電容的可靠性會受到熱應(yīng)力的不利影響，故不建議用戶在>125℃的環(huán)境溫度下應(yīng)用普通電容，但也存在例外：

 

A：溫度不超過160℃時，大多數(shù)的普通電容性能可靠，但Knowles/Syfer建議用戶選取額定電壓大于或等于應(yīng)用中的實際電壓30%的電容。

 

例如，如果應(yīng)用中需要用到0805 50V 10nF的電容，則Knowles/Syfer的建議是實際選用0805 100V 10nF的電容來替代，而0805 63V 10nF的電容則不可取，因其電壓提升僅為26%。

 

B：溫度高于160℃時，Knowles/Syfer的測試數(shù)據(jù)顯示，電容的可靠性呈幾何級數(shù)變化，類似于上文所示熱應(yīng)力變化圖表。這就使得我們很難制定一套簡單的規(guī)則來指導(dǎo)用戶針對160℃到200℃區(qū)間范圍內(nèi)的應(yīng)用選取適當(dāng)?shù)碾娙荨?/div>