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半導(dǎo)體商惠瑞捷V93000測(cè)試平臺(tái)獲ISE Labs硅谷采用

發(fā)布時(shí)間:2012-03-29

新聞事件:

  • Verigy V93000 測(cè)試平臺(tái)獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠(chǎng)采用

事件影響:

  • 進(jìn)一步擴(kuò)展雙方對(duì)于測(cè)試開(kāi)發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系
  • 是硅谷測(cè)試服務(wù)供應(yīng)商中的首創(chuàng)之舉


半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商惠瑞捷 (Verigy) (Advantest Group 愛(ài)德萬(wàn)集團(tuán)(東京證交所:6857,紐約證交所:ATE)子公司)日前宣布ISE Labs 在加州費(fèi)利蒙、德州奧斯汀的測(cè)試封裝廠(chǎng)引進(jìn)V93000 Smart Scale™ 數(shù)位量測(cè)模組以及Pin Scale測(cè)試機(jī)種之測(cè)試設(shè)備,進(jìn)一步擴(kuò)展雙方對(duì)于測(cè)試開(kāi)發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系。

雙方長(zhǎng)遠(yuǎn)結(jié)盟關(guān)系的最新計(jì)畫(huà)即為ISE Labs 奧斯汀廠(chǎng)將開(kāi)始采用惠瑞捷的Pin Scale 技術(shù)開(kāi)發(fā)先進(jìn)的測(cè)試方法,針對(duì)最新一代低功耗安謀(ARM)架構(gòu)伺服器處理器,搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費(fèi)性IC 如智慧媒體芯片內(nèi)建系統(tǒng)(SOC) 設(shè)備,應(yīng)用于下一代的媒體閘道器與機(jī)上盒。為達(dá)成上述目標(biāo), ISE Labs 奧斯汀廠(chǎng)安裝L 級(jí)測(cè)試頭的V93000 Pin Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái),在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 數(shù)位量測(cè)模組下,具備超過(guò)900 個(gè)數(shù)位信號(hào)腳位供測(cè)試。

此外,硅谷最大的半導(dǎo)體測(cè)試實(shí)驗(yàn)室— ISE Labs 費(fèi)利蒙廠(chǎng),亦引進(jìn)了兩臺(tái)配備Pin Scale 1600數(shù)位量測(cè)模組的V93000 Smart Scale 測(cè)試機(jī),用以測(cè)試客戶(hù)量產(chǎn)的IC。其中一套系統(tǒng)使用Pin Scale 1600 以及9G 數(shù)位量測(cè)模組,有超過(guò)1, 000 個(gè)腳位的C 級(jí)測(cè)試頭;另一個(gè)系統(tǒng)則配備惠瑞捷最小的A 級(jí)測(cè)試頭,配有512 個(gè)數(shù)位量測(cè)腳位以及MB-AV8 PLUS 類(lèi)比信號(hào)量測(cè)模組。兩套系統(tǒng)均可擴(kuò)充升級(jí),提供增加數(shù)位量測(cè)腳數(shù),或新增測(cè)量資源,如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術(shù),是硅谷測(cè)試服務(wù)供應(yīng)商中的首創(chuàng)之舉。

ISE Labs工程與測(cè)試服務(wù)副總裁Rabbi-ul Islam 表示:「我們對(duì)于與惠瑞捷的長(zhǎng)期合作關(guān)系,一直感到相當(dāng)滿(mǎn)意,也很高興能夠在奧斯汀技術(shù)中心開(kāi)始實(shí)施其經(jīng)認(rèn)證的Pin Scale 技術(shù)。」

惠瑞捷北美銷(xiāo)售暨支援部門(mén)副總裁Sanjeev Mohan 強(qiáng)調(diào):「能獲得ISE Labs 青睞,將新一代Smart Scale 系統(tǒng)運(yùn)用于技術(shù)開(kāi)發(fā)以及商業(yè)測(cè)試服務(wù),對(duì)我們來(lái)說(shuō)是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們?cè)诟黜?xiàng)測(cè)試應(yīng)用都能達(dá)到業(yè)界領(lǐng)先的水準(zhǔn)。」

惠瑞捷的可擴(kuò)展Smart Scale 測(cè)試系統(tǒng)以及數(shù)位信號(hào)量測(cè)模組,展現(xiàn)最具經(jīng)濟(jì)效益的先進(jìn)半導(dǎo)體設(shè)計(jì)測(cè)試,包括28nm 技術(shù)節(jié)點(diǎn)及以下的3D 堆疊與IC設(shè)計(jì)。

Pin Scale 1600 數(shù)位量測(cè)模組在測(cè)試靈活性方面開(kāi)拓一個(gè)嶄新領(lǐng)域。此模組的萬(wàn)用per-pin 架構(gòu),讓每個(gè)通道在測(cè)試下都能夠發(fā)揮各種裝置所需的功能,帶來(lái)最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨(dú)立時(shí)脈網(wǎng)域、高精準(zhǔn)度的直流電與業(yè)界領(lǐng)先的數(shù)位效能,都可以透過(guò)Pin Scale 1600 進(jìn)行強(qiáng)化。

惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測(cè)模組是唯一完全整合、高速、數(shù)位化且能夠涵蓋自直流到超過(guò)每秒8Gb,符合成本的高速測(cè)試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測(cè)模組可測(cè)試包括平行或序列式、單點(diǎn)或多點(diǎn)、單向或雙向的介面。

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