新聞事件：

• 力科在2012DesignCon展會上展示創(chuàng)新的信號完整性產品和專業(yè)技術

事件影響：

• 力科專家將有七場技術演講，演示，并參加兩個行業(yè)小組論壇
• 力科展示其最新的創(chuàng)新信號完整性產品、新技術和創(chuàng)新解決方案

美國力科公司---2012年的DesignCon博覽會的鉆石贊助商，將手冊展示出其最新的創(chuàng)新產品和新技術，演示在速度、性能和分析能力方面持續(xù)保持領先地位的示波器和信號完整性測試解決方案。此外，力科的專家將展示7個技術專題，并參加兩個行業(yè)小組，專注于以創(chuàng)新的方法來解決一些當今工程師們所面臨的最重要的測試測量挑戰(zhàn)。力科的工程師們也將親臨力科101展位和您一起進行技術交流和探討。

產品演示包括：

（1）LabMaster9Zi-A：多達20通道，120GS/s采樣率，45GHz帶寬的模塊化示波器以及串擾分析和虛擬探測分析軟件組展示了力科新的多通道串行數據分析平臺;
（2）WaveMaster8Zi-A：一流的45GHz,120GS/s的示波器;
（3）LabMaster 10Zi：見證了世界上最高帶寬——達到60GHz——以及最高的通道密度的示波器;
（4）SPARQ：12端口，30GHz的信號完整性網絡分析儀;
（5）HRO66Zi：業(yè)界唯一的12位ADC高分辨率的示波器；
（6）Kibra：業(yè)界第一的DDR4總線和時序分析儀;
（7）PeRT3：測試USB3,SATA,PCI Express®和其它協(xié)議分析的，最全面的,唯一具有協(xié)議使能的端到端接收機測試儀器。

創(chuàng)新產品演示

在過去三年的DesignCon上，力科分別發(fā)布了突破記錄的高帶寬示波器。今年的會議參與者將有機會再次和力科工程師討論有關最新突破性帶寬的技術信息。LabMaster 10Zi將業(yè)界最先進的8HP SiGe 36GHz芯片組、DBI專利技術、ChannelSync時鐘同步架構結合在一起，提供了60GHz實時帶寬，幾乎是競爭對手帶寬的兩倍。LabMaster 10Zi在“帶寬密度”（能夠工作在同步狀態(tài)的最高帶寬通道的數量）方面也是業(yè)界領先------20個36GHz通道或10個60GHz通道，是競爭對手的10倍。

WaveMaster 8Zi-A示波器，在過去兩年都獲得UBM電子發(fā)布的測試和測量類的DesignVision大獎。這款示波器將以PCI Express信號為例來演示端到端的串行數據分析。PCI Express 3.0測試方案還包括帶協(xié)議使能的接收和發(fā)送容限測試儀PeRT3 Phoenix，以及協(xié)議分析儀Summit T3-16 和Summit T3-8。

力科提供了業(yè)界唯一的12bit高分辨率示波器HRO，帶寬可到600MHz。作為世界上噪聲最低的示波器，HRO結合12bit ADC和低噪聲前端技術，提供了無與倫比的信號保真度。通過演示清晰干凈的波形、快速的波形更新和反應速度，HRO和傳統(tǒng)8bit示波器的震撼性對比將展示給與會者。

力科也發(fā)布了新的Kibra 480平臺，提供專利的探測技術，用于DDR4信號監(jiān)控，勿需繁瑣的信號校準和設置。

信號完整性網絡分析儀SPARQ能夠快速測量S參數，價格只是矢量網絡分析儀的一小部分。 通過最新發(fā)布的8端口和12端口SPARQ，信號完整性工程師能夠對多通道差分線路進行快速的串擾分析。

一種新的多通道串行數據分析平臺也將在會上展示。這套產品能夠對多達4個通道進行同時分析和比較、快速測量眼圖和抖動，并無縫集成了即將發(fā)布的虛擬探頭和串擾分析軟件包。虛擬探頭軟件能夠通過S參數去嵌夾具。創(chuàng)新性的串擾分析軟件包能夠幫助用戶深入探測串行數據傳輸過程中的串擾。測量串擾引起的垂直噪聲，得到干擾通道引起的總噪聲、確定性噪聲和隨機噪聲，并能對串擾來源做深入分析和調試。

專家技術演講

技術文章演講中包含的主題有：
(1) 高速設計中的去嵌技術；
(2) 12Gbps 高損耗和通道間串擾的交互測試；
(3) 模擬仿真高速串行鏈路性能；
(4) 離散頻率S參數和連續(xù)頻率響應；
(5) S參數的強制互換性，無源性和因果性算法。

由Eric Bogatin演講的關于信號完整性的兩個主題包括：
(6) 回波損耗的紋波研究
(7) 在工業(yè)論壇上解答當今最有挑戰(zhàn)的信號完整性方面的問題。

最后，力科將參加兩場非常受人關注的工業(yè)座談會。在周三大會閉幕式上將探討:
(8) “答疑期間的演講主題：在測試測量方面滿足設計者需求”，內容涉及對未來測試測量發(fā)展的展望，與設計工程師進行互動和交流，以及怎樣更多的在未來測試技術中更多關注設計者的需求。

專題討論小組參加人員：
Dave Graef, 力科公司CTO，副總裁；
Kevin Ilcisin，泰克 CTO；
Greg Peters，安捷倫GM，測試分部副總裁；
Eric Starkloff， 美國國家儀器系統(tǒng)平臺副總裁。
來自力科，泰克，安捷倫，Teraspeed Consulting，Altera，和LSI的專家團隊。

專題小組的演講主題:
(9) “眼圖閉合時：如何消除令人困惑的測試復雜性”