【導(dǎo)讀】如果在設(shè)計(jì)初期沒有考慮電磁干擾(EMI)問題，那元件在最終設(shè)計(jì)階段將很難滿足 EMI 要求。對(duì) EMI 進(jìn)行建模與分析將幫助設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)之初即優(yōu)化 EMI 并預(yù)測 EMI 性能。
EMI 包括兩種類型：傳導(dǎo) EMI 和輻射 EMI。傳導(dǎo) EMI 通過物理接觸傳播（通過電纜或其他導(dǎo)體到達(dá)接收設(shè)備），而輻射 EMI 噪聲不需要物理接觸，通過開放空間傳播到接收設(shè)備。
本文將討論輻射 EMI 以及預(yù)測輻射 EMI 的建模方法。參閱本系列之上篇可以了解傳導(dǎo) EMI 的更多信息。
輻射 EMI
確定輻射 EMI 的傳統(tǒng)方法是使用電磁場理論進(jìn)行推導(dǎo)與分析。但就工程應(yīng)用和建模而言，用復(fù)雜的公式推導(dǎo)輻射 EMI 將導(dǎo)致很難透徹理解EMI，而且也無從了解如何改善 EMI 問題。相比之下，創(chuàng)建一個(gè)電路模型，從物理上表達(dá)輻射 EMI 將更為有用。
圖 1 顯示了通過偶極子天線輻射的大部分輻射 EMI。該子天線由輸入線和輸出線組成，其驅(qū)動(dòng)源是變換器的共模噪聲源。
圖 1：輻射 EMI 的機(jī)制和模型
根據(jù)戴維南定理，變換器可以等效于具有串聯(lián)阻抗的單個(gè)電壓源。而天線具有三個(gè)阻抗，分別代表其自身損耗、輻射能量和存儲(chǔ)的近場能量。
對(duì)變換器來說，源越小，輻射能量越少。
如圖 2 所示，非隔離式變換器在理想條件下（圖2上部），其輸入與輸出地之間無阻抗，所以輸入與輸出地之間沒有電壓變化，等效電壓源（VCM）為零；這意味著不存在輻射 EMI 噪聲。但在實(shí)際場景中（圖2下部），由于 PCB 走線與地之間產(chǎn)生的電感，輸入端（P1）和輸出端（P3）之間會(huì)出現(xiàn)壓降（分別表示為 ZGND1 和 ZGND2），并因此產(chǎn)生輻射 EMI。
圖 2：理想電路模型與實(shí)際升降壓變換器
為了分析電路中如何產(chǎn)生輻射 EMI，需要利用替代定理創(chuàng)建升降壓變換器的等效模型。首先，將開關(guān)（SW）和二極管替換為等效電壓源（VSW）和電流源（ID），然后利用疊加定理分別分析其影響。
F圖 3 顯示了 VSW 電壓源如何產(chǎn)生輻射噪聲。
圖 3：電壓源產(chǎn)生輻射 EMI
圖 4 顯示了電流源 (ID) 如何產(chǎn)生輻射噪聲。
圖 4：電流源產(chǎn)生輻射 EMI
根據(jù)該模型可以獲得每個(gè)源的傳遞函數(shù)，因?yàn)樗c變換器的等效源相關(guān)：
● 電壓源和電流源可用示波器測量。
● 模型中的每個(gè)阻抗都可使用阻抗分析儀進(jìn)行測量。
● 通過計(jì)算預(yù)測等效源。
如圖 5 所示，采用等效源的預(yù)測值與電路的實(shí)際測量值接近，這表明模型是準(zhǔn)確的。
圖 5：預(yù)測與實(shí)際的升降壓變換器等效源
另一方面，我們還需要考慮天線。由于線束的長度通常在測試時(shí)確定，因此在一定標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行EMI測試時(shí)，可以根據(jù)線束的長度和排列方式來測量天線增益。
通過結(jié)合變換器的等效源和等效阻抗，我們可以預(yù)測實(shí)際的輻射 EMI 噪聲。圖 6 展示了預(yù)測的流程和方法。在預(yù)測流程中，首先確定初始開關(guān)噪聲和傳輸增益；然后獲取 CM 端電壓、天線的傳輸增益以及源與天線阻抗；最終就可以準(zhǔn)確預(yù)測 EMI 噪聲。
圖6: 預(yù)測方法
圖 7 顯示了相似的預(yù)測結(jié)果與實(shí)際結(jié)果，這表明該預(yù)測流程是預(yù)測輻射噪聲的有效方法。
圖 7：預(yù)測輻射噪聲與實(shí)際輻射噪聲的比較
結(jié)語
本文探討了采用降壓變換器和升降壓變換器的非隔離式變換器輻射 EMI 建模方法。本系列文章之上篇介紹了傳導(dǎo) EMI 以及可能產(chǎn)生 EMI 的無源組件。
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