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半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝

發(fā)布時(shí)間:2024-05-31 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】在本系列第六篇文章中,我們介紹了傳統(tǒng)封裝的組裝流程。本文將是接下來(lái)的兩篇文章中的第一集,重點(diǎn)介紹半導(dǎo)體封裝的另一種主要方法——晶圓級(jí)封裝(WLP)。本文將探討晶圓級(jí)封裝的五項(xiàng)基本工藝,包括:光刻(Photolithography)工藝、濺射(Sputtering)工藝、電鍍(Electroplating)工藝、光刻膠去膠(PR Stripping)工藝和金屬刻蝕(Metal Etching)工藝。





在本系列第六篇文章中,我們介紹了傳統(tǒng)封裝的組裝流程。本文將是接下來(lái)的兩篇文章中的第一集,重點(diǎn)介紹半導(dǎo)體封裝的另一種主要方法——晶圓級(jí)封裝(WLP)。本文將探討晶圓級(jí)封裝的五項(xiàng)基本工藝,包括:光刻(Photolithography)工藝、濺射(Sputtering)工藝、電鍍(Electroplating)工藝、光刻膠去膠(PR Stripping)工藝和金屬刻蝕(Metal Etching)工藝。


封裝完整晶圓



晶圓級(jí)封裝是指晶圓切割前的工藝。晶圓級(jí)封裝分為扇入型晶圓級(jí)芯片封裝(Fan-In WLCSP)和扇出型晶圓級(jí)芯片封裝(Fan-Out WLCSP),其特點(diǎn)是在整個(gè)封裝過(guò)程中,晶圓始終保持完整。除此之外,重新分配層(RDL)封裝、倒片(Flip Chip)封裝及硅通孔1(TSV)封裝通常也被歸類為晶圓級(jí)封裝,盡管這些封裝方法在晶圓切割前僅完成了部分工序。不同封裝方法所使用的金屬及電鍍(Electroplating)2繪制圖案也均不相同。不過(guò),在封裝過(guò)程中,這幾種方法基本都遵循如下順序。




1硅通孔(TSV , Through-Silicon Via):一種可完全穿過(guò)硅裸片或晶圓實(shí)現(xiàn)硅片堆疊的垂直互連通道。


2電鍍 (Electroplating):一項(xiàng)晶圓級(jí)封裝工藝,通過(guò)在陽(yáng)極上發(fā)生氧化反應(yīng)來(lái)產(chǎn)生電子,并將電子導(dǎo)入到作為陰極的電解質(zhì)溶液中,使該溶液中的金屬離子在晶圓表面被還原成金屬。


完成晶圓測(cè)試后,根據(jù)需求在晶圓上制作絕緣層(Dielectric Layer)。初次曝光后,絕緣層通過(guò)光刻技術(shù)再次對(duì)芯片焊盤(pán)進(jìn)行曝光。然后,通過(guò)濺射(Sputtering)3工藝在晶圓表面涂覆金屬層。此金屬層可增強(qiáng)在后續(xù)步驟中形成的電鍍金屬層的黏附力,同時(shí)還可作為擴(kuò)散阻擋層以防止金屬內(nèi)部發(fā)生化學(xué)反應(yīng)。此外,金屬層還可在電鍍過(guò)程中充當(dāng)電子通道。之后涂覆光刻膠(Photoresist)以形成電鍍層,并通過(guò)光刻工藝?yán)L制圖案,再利用電鍍形成一層厚的金屬層。電鍍完成后,進(jìn)行光刻膠去膠工藝,采用刻蝕工藝去除剩余的薄金屬層。最后,電鍍金屬層就在晶圓表面制作完成了所需圖案。這些圖案可充當(dāng)扇入型WLCSP的引線、重新分配層封裝中的焊盤(pán)再分布,以及倒片封裝中的凸點(diǎn)。下文將對(duì)每道工序進(jìn)行詳細(xì)介紹。


3濺射 (Sputtering):一項(xiàng)利用等離子體束對(duì)靶材進(jìn)行物理碰擊,使靶材粒子脫落并沉積在晶圓上的工藝。


半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝

半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝

半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝

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圖1:各類晶圓級(jí)封裝工藝及相關(guān)步驟


光刻工藝:在掩模晶圓上繪制電路圖案


光刻對(duì)應(yīng)的英文是Photolithography,由“-litho(石刻)”和“graphy(繪圖)”組成,是一種印刷技術(shù),換句話說(shuō),光刻是一種電路圖案繪制工藝。首先在晶圓上涂覆一層被稱為“光刻膠”的光敏聚合物,然后透過(guò)刻有所需圖案的掩模,選擇性地對(duì)晶圓進(jìn)行曝光,對(duì)曝光區(qū)域進(jìn)行顯影,以繪制所需的圖案或圖形。該工藝的步驟如圖2所示。


半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝


圖2:光刻工藝步驟




在晶圓級(jí)封裝中,光刻工藝主要用于在絕緣層上繪制圖案,進(jìn)而使用繪制圖案來(lái)創(chuàng)建電鍍層,并通過(guò)刻蝕擴(kuò)散層來(lái)形成金屬線路。


半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝



圖3:攝影與光刻的對(duì)比




為更加清楚地了解光刻工藝,不妨將其與攝影技術(shù)進(jìn)行比較。如圖3所示,攝影以太陽(yáng)光作為光源來(lái)捕捉拍攝對(duì)象,對(duì)象可以是物體、地標(biāo)或人物。而光刻則需要特定光源將掩模上的圖案轉(zhuǎn)移到曝光設(shè)備上。另外,攝像機(jī)中的膠片也可類比為光刻工藝中涂覆在晶圓上的光刻膠。如圖4所示,我們可以通過(guò)三種方法將光刻膠涂覆在晶圓上,包括旋涂(Spin Coating)、薄膜層壓(Film Lamination)和噴涂(Spray Coating)。涂覆光刻膠后,需用通過(guò)前烘(Soft Baking)來(lái)去除溶劑,以確保粘性光刻膠保留在晶圓上且維持其原本厚度。


如圖5所示,旋涂將粘性光刻膠涂覆在旋轉(zhuǎn)著的晶圓中心,離心力會(huì)使光刻膠向晶圓邊緣擴(kuò)散,從而以均勻的厚度分散在晶圓上。粘度越高轉(zhuǎn)速越低,光刻膠就越厚。反之,粘度越低轉(zhuǎn)速越高,光刻膠就越薄。對(duì)于晶圓級(jí)封裝而言,特別是倒片封裝,光刻膠層的厚度須達(dá)到30 μm至100 μm,才能形成焊接凸點(diǎn)。然而,通過(guò)單次旋涂很難達(dá)到所需厚度。在某些情況下,需要反復(fù)旋涂光刻膠并多次進(jìn)行前烘。因此,在所需光刻膠層較厚的情況下,使用層壓方法更加有效,因?yàn)檫@種方法從初始階段就能夠使光刻膠薄膜達(dá)到所需厚度,同時(shí)在處理過(guò)程中不會(huì)造成晶圓浪費(fèi),因此成本效益也更高。但是,如果晶圓結(jié)構(gòu)表面粗糙,則很難將光刻膠膜附著在晶圓表面,此種情況下使用層壓方法,會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品缺陷。所以,針對(duì)表面非常粗糙的晶圓,可通過(guò)噴涂方法,使光刻膠厚度保持均勻。


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圖4:光刻膠涂覆的三種方法



半導(dǎo)體后端工藝|第七篇:晶圓級(jí)封裝工藝

圖5:旋涂方法示意圖




完成光刻膠涂覆和前烘后,接下來(lái)就需要進(jìn)行曝光。通過(guò)照射,將掩模上的圖案投射到晶圓表面的光刻膠上。由于正性光刻膠(Positive PR)在曝光后會(huì)軟化,因此使用正性光刻膠時(shí),需在掩模去除區(qū)開(kāi)孔。負(fù)性光刻膠(Negative PR)在曝光后則會(huì)硬化,所以需在掩模保留區(qū)開(kāi)孔。晶圓級(jí)封裝通常采用掩模對(duì)準(zhǔn)曝光機(jī)(Mask Aligner)4或步進(jìn)式光刻機(jī)(Stepper)5作為光刻工藝設(shè)備。


4掩模對(duì)準(zhǔn)曝光機(jī)(Mask Aligner):一種將掩模上的圖案與晶圓進(jìn)行對(duì)準(zhǔn),使光線穿過(guò)掩模并照射在晶圓表面的曝光設(shè)備。


5步進(jìn)式光刻機(jī)(Stepper): 一種在工件臺(tái)逐步移動(dòng)時(shí),通過(guò)開(kāi)啟和關(guān)閉快門控制光線以進(jìn)行光刻的機(jī)器。


顯影(Development)是一種利用顯影液來(lái)溶解因光刻工藝而軟化的光刻膠的工藝。如圖6所示,顯影方法可分為三種,包括:水坑式顯影(Puddle Development),將顯影液倒入晶圓中心,并進(jìn)行低速旋轉(zhuǎn);浸沒(méi)式顯影(Tank Development),將多個(gè)晶圓同時(shí)浸入顯影液中;噴淋式顯影(Spray Development),將顯影液噴灑到晶圓上。圖7顯示了靜態(tài)顯影方法的工作原理。完成靜態(tài)顯影后,通過(guò)光刻技術(shù)使光刻膠形成所需的電路圖案。


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圖6:三種不同的顯影方法


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圖7:水坑式顯影方法的工作原理


濺射工藝:在晶圓表面形成薄膜



濺射是一種在晶圓表面形成金屬薄膜的物理氣相沉積(PVD)6工藝。如果晶圓上形成的金屬薄膜低于倒片封裝中的凸點(diǎn),則被稱為凸點(diǎn)下金屬層(UBM,Under Bump Metallurgy)。通常凸點(diǎn)下金屬層由兩層或三層金屬薄膜組成,包括:增強(qiáng)晶圓粘合性的黏附層;可在電鍍過(guò)程中提供電子的載流層;以及具有焊料潤(rùn)濕性(Wettability)7,并可阻止鍍層和金屬之間形成化合物的擴(kuò)散阻擋層。例如薄膜由鈦、銅和鎳組成,則鈦層作為黏附層,銅層作為載流層,鎳層作為阻擋層。因此,UBM對(duì)確保倒片封裝的質(zhì)量及可靠性十分重要。在RDL和WLCSP等封裝工藝中,金屬層的作用主要是形成金屬引線,因此通常由可提高粘性的黏附層及載流層構(gòu)成。




6物理氣相沉積(PVD):一種產(chǎn)生金屬蒸氣,并將其作為一種厚度較薄且具有粘性的純金屬或合金涂層沉積在導(dǎo)電材料上的工藝。


7潤(rùn)濕性(Wettability):因液體和固體表面的相互作用,使液體在固體表面擴(kuò)散的現(xiàn)象。


如圖8所示,在濺射工藝中,首先將氬氣轉(zhuǎn)化為等離子體(Plasma)8,然后利用離子束碰擊靶材(Target),靶材的成分與沉積正氬離子的金屬成分相同。碰擊后,靶材上的金屬顆粒會(huì)脫落并沉積在晶圓表面。通過(guò)濺射,沉積的金屬顆粒具有一致的方向性。盡管晶圓平坦區(qū)經(jīng)過(guò)沉積后厚度均勻,但溝槽或垂直互連通路(通孔)的沉積厚度可能存在差異,因此就沉積厚度而言,此類不規(guī)則形狀會(huì)導(dǎo)致平行于金屬沉積方向的基板表面的沉積厚度,比垂直于金屬沉積方向的基板表面沉積厚度薄。


8等離子體(Plasma):一種因質(zhì)子和電子的自由運(yùn)動(dòng)而呈電中性的物質(zhì)狀態(tài)。當(dāng)持續(xù)對(duì)氣體狀物質(zhì)進(jìn)行加熱使其升溫時(shí),便會(huì)產(chǎn)生由離子和自由電子組成的粒子集合體。等離子體也被視為固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)之外的“第四種物質(zhì)狀態(tài)”。


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圖8:濺射的基本原理


電鍍工藝:形成用于鍵合的金屬層



電鍍是將電解質(zhì)溶液中的金屬離子還原為金屬并沉積在晶圓表面的過(guò)程,此過(guò)程是需要通過(guò)外部提供的電子進(jìn)行還原反應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。在晶圓級(jí)封裝中,采用電鍍工藝形成厚金屬層。厚金屬層可充當(dāng)實(shí)現(xiàn)電氣連接的金屬引線,或是焊接處的凸點(diǎn)。如圖9所示,陽(yáng)極上的金屬會(huì)被氧化成離子,并向外部電路釋放電子。在陽(yáng)極處被氧化的及存在于溶液中的金屬離子可接收電子,在經(jīng)過(guò)還原反應(yīng)后成為金屬。在晶圓級(jí)封裝的電鍍工藝中,陰極為晶圓。陽(yáng)極由作為電鍍層的金屬制成,但也可使用如鉑金的不溶性電極(Insoluble Electrode)9。如果陽(yáng)極板由作為鍍層的金屬制成,金屬離子就會(huì)從陽(yáng)極板上溶解并持續(xù)擴(kuò)散,以保持溶液中離子濃度的一致性。如果使用不溶性電極,則必須定期補(bǔ)充溶液中因沉積到晶圓表面而消耗的金屬離子,以維持金屬離子濃度。圖10展示了陰極和陽(yáng)極分別發(fā)生的電化學(xué)反應(yīng)。




9不溶性電極(Insoluble Electrode):一種主要用于電解和電鍍的電極。它既不溶于化學(xué)溶液,也不溶于電化學(xué)溶液。鉑金等材料常被用于制作不溶性電極。

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圖9:電鍍過(guò)程



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圖10:陰極和陽(yáng)極電化學(xué)反應(yīng)公式



在放置晶圓電鍍?cè)O(shè)備時(shí),通常需確保晶圓的待鍍面朝下,同時(shí)將陽(yáng)極置于電解質(zhì)溶液中。當(dāng)電解質(zhì)溶液流向晶圓并與晶圓表面發(fā)生強(qiáng)力碰撞時(shí),就會(huì)發(fā)生電鍍。此時(shí),由光刻膠形成的電路圖案會(huì)與待鍍晶圓上的電解質(zhì)溶液接觸。電子分布在晶圓邊緣的電鍍?cè)O(shè)備上,最終電解質(zhì)溶液中的金屬離子與光刻膠在晶圓上繪制的圖案相遇。隨后,電子與電解質(zhì)溶液中的金屬離子結(jié)合,在光刻膠繪制圖案的地方進(jìn)行還原反應(yīng),形成金屬引線或凸點(diǎn)。


光刻膠去膠工藝和金屬刻蝕工藝:去除光刻膠


在所有使用光刻膠圖案的工藝步驟完成后,必須通過(guò)光刻膠去膠工藝來(lái)清除光刻膠。光刻膠去膠工藝是一種濕法工藝,采用一種被稱為剝離液(Stripper)的化學(xué)溶液,通過(guò)水坑式、浸沒(méi)式,或噴淋式等方法來(lái)實(shí)現(xiàn)。通過(guò)電鍍工藝形成金屬引線或凸點(diǎn)后,需清除因?yàn)R射形成的金屬薄膜。這是非常必要的一個(gè)步驟,因?yàn)槿绻蝗コ饘俦∧?,整個(gè)晶圓都將被電氣連接從而導(dǎo)致短路。可采用濕刻蝕(Wet Etching)工藝去除金屬薄膜,以酸性刻蝕劑(Etchant)溶解金屬。這種工藝類似于光刻膠去膠工藝,隨著晶圓上的電路圖案變得越來(lái)越精細(xì),水坑式方法也得到了更廣泛的應(yīng)用。


一種更加高效且可靠的封裝工藝


通過(guò)上述各個(gè)階段工藝流程,從光刻繪制電路圖案到最終的光刻膠去膠工藝,晶圓級(jí)封裝確保提升了其封裝效率、微型化、及可靠性。在下一篇文章中,將詳細(xì)探討采用扇入及扇出型WLCSP、重新分配層封裝、倒片封裝和硅通孔封裝等晶圓級(jí)封裝工藝。

文章來(lái)源:SK海力士


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