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USB-TX選件:泰克精確的超高速USB測試解決方案

發(fā)布時間:2009-06-05

產(chǎn)品特點:

  • 泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調(diào)試和一致性測試工具

應(yīng)用領(lǐng)域:

  • USB 3.0發(fā)射機、接收機和電纜測試

泰克公司日前宣布,為超高速 USB (USB 3.0)設(shè)備的檢定、調(diào)試和自動化一致性測試提供一套完善的新工具組。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX選件為驗證USB 3.0發(fā)射機提供了自動的一鍵式測試解決方案,為工程師帶來了更高效的方法,加快產(chǎn)品開發(fā)周期。此外,泰克公司還推出了一整套USB 3.0測試夾具,使工程師可以執(zhí)行更精確的發(fā)射機、接收機和電纜測試。

USB-TX選件:泰克提供最精確的超高速USB測試解決方案

受來自更快數(shù)據(jù)傳輸速度的驅(qū)使,USB 3.0的性能較當前USB解決方案提高了10倍,但同時也給系統(tǒng)和電路設(shè)計人員帶來了多重挑戰(zhàn)。增加的帶寬對關(guān)鍵信號傳輸和信號保真度提出了更高的要求,因而需要異常準確、功能多樣的測試解決方案。當業(yè)內(nèi)其它解決方案只是根據(jù)USB-IF測試規(guī)范提供標準化測量時,泰克的USB-TX選項則支持所有測量,包括標準化測試和參考性測試,如擴頻時鐘(SSC)、轉(zhuǎn)換、電壓電平等等??蛻敉耆梢孕刨嚻湓O(shè)計驗證過程。

其它解決方案只限于特定標準化一致性測試,而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調(diào)試和一致性測試工具。加上唯一能夠以最近距離探測芯片的插頭式測試夾具,泰克USB3.0測試解決方案可以最真實地反映信號。

“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測試解決方案,它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設(shè)計工藝帶來的生產(chǎn)效率上的提高令人激動。”Fresco Logic公司首席技術(shù)官Bob McVay說,“AWG7000可以執(zhí)行接收機容限測試,并能夠迅速從發(fā)射機一致性測試環(huán)境轉(zhuǎn)到調(diào)試。事實證明,AWG7000可以節(jié)約大量時間。”

高速串行標準自動化框架

選項USB-TX基于TekExpressä框架,該框架是專為自動一鍵式測試高速串行數(shù)據(jù)標準而開發(fā)的。TekExpress模塊基于標準機構(gòu)指定和發(fā)布的測試要求和實現(xiàn)方法(MOI),所有測試流程均自動完成,客戶只需選擇所需的測試,就可以獲得包括通過/失敗和余量結(jié)果的完整報告。除新推出的USB 3.0解決方案外,泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動測試模塊。

“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數(shù)據(jù)測試工作中的臆測。在當前環(huán)境中,客戶要處理多種標準,成為所有領(lǐng)域的專家,這一點極具挑戰(zhàn)性。”泰克公司技術(shù)解決方案部總經(jīng)理Ian Valentine說,“TekExpress提供了客戶所需的專業(yè)技術(shù),并使得他們能夠?qū)W⒂谠缛諏⒃O(shè)計投向市場上。”

完整的發(fā)射機、接收機和電纜測試解決方案

USB將加入其它高速串行標準,如速率達8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ,成為要求更高的技術(shù)之一,從而需要先進的測量儀器,如泰克最新推出的業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實時示波器擁有高達20GHz的帶寬,提供了業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的信號保真度、最低的噪底和最高的有效比特數(shù)(ENOB),為高要求的一致性測試和調(diào)試測試提供了更大的余量和保真度。對于接收機測試來說,泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器是唯一可以在一臺儀器中生成所有要求信號的解決方案。同時,泰克還通過其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測量解決方案。

供貨情況

測試夾具將在2009年夏季供貨。

 

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